FEI Company
Souřadnice: 45°32′48,84″ s. š., 122°55′40,8″ z. d.
| FEI Company | |
|---|---|
 | |
| Základní údaje | |
| Právní forma | nadnárodní |
| Datum založení | 1971 |
| Zakladatelé | Lynwood Swanson, Noel Martin |
| Sídlo | Hillsboro, Oregon, USA |
| Adresa sídla | Hillsboro, 971 24, USA |
| Souřadnice sídla | 45°32′48,84″ s. š., 122°55′40,8″ z. d. |
| Klíčoví lidé | Dr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO Tony Trunzo, Výkonný viceprezident a CFO |
| Charakteristika firmy | |
| Oblast činnosti | Vědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy |
| Produkty | FIB – fokusovaný iontový paprsek Rastrovací elektronové mikroskopy Transmisní elektronové mikroskopy Micro Computing Tomography |
| Obrat | ▼ 930 mil. USD (2015)[1] |
| Provozní zisk | 156,2 mil. $ (2013) |
| Výsledek hospodaření | ▲ 124 mil. USD (2015)[1] |
| Celková aktiva | ▼ 1,4 mld. USD (2015)[1] |
| Zaměstnanci | 3,060 (2015)[1] |
| Identifikátory | |
| Oficiální web | www.fei.com |
| LEI | ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340 |
| Některá data mohou pocházet z datové položky. | |
| FEI Czech Republic s.r.o. | |
|---|---|
| Základní údaje | |
| Datum založení | 8. září 1992 |
| Sídlo | Brno, Česko |
| Adresa sídla | Hillsboro, 971 24, USA |
| Charakteristika firmy | |
| Produkty | elektronové mikroskopy |
| Obrat | ▲ 8,3 mld. Kč (2015)[2] |
| Výsledek hospodaření | ▼ 257 mil. Kč (2015)[2] |
| Celková aktiva | ▲ 4,5 mld. Kč (2015)[2] |
| Vlastní kapitál | ▲ 2,8 mld. Kč (2015)[2] |
| Zaměstnanci | ▲ 950 (2018)[2] |
| Mateřská společnost | FEI CPD B.V. (100%) |
| Identifikátory | |
| IČO | 46971629 |
| LEI | ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340 |
| Některá data mohou pocházet z datové položky. | |
FEI Company je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele[3] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:
- výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
- přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
- elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
- průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie
Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů, rentgenového záření a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a X-ray mikro tomografy (mikro CT) . Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (Hillsboro – Oregon, USA) a v Evropě (Brno – Česká republika, Eindhoven – Nizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.
Jednou z důležitých dceřiných společností je FEI Czech Republic s.r.o. (dříve DELMI,spol. s r.o. a Philips Electron Optics Česká republika s.r.o.) se sídlem v Brně.
Historie
[editovat | editovat zdroj]FEI ve světě
- 1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
- 1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
- 1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
- 1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
- 1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
- 1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
- Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
- 1985 – Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
- 1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
- 1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
- 1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
- 1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
- 1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
- 1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
- 1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
- 1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
- 1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
- 1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
- 1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
- 2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
- 2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
- 2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
- 2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
- 2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
- 2003 - FEI získává společnost Emispec.
- 2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
- 2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
- 2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
- 2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením
- 2011 - FEI získává Till Photonic, Mnichov, Německo (světelné mikroskopy)
- 2012 - FEI získává společnost Aspex, Pittsburgh, USA
- 2012 - FEI získává společnost Visualisation Sciences Group, Boedeaux, Francie (3D vizualizační software)
- 2014 - FEI získává společnost Lithicon (Trondheim, Norsko a Canberra, Austrálie)
- 2014 - FEI otevírá nové Technologické centrum v Brně
- 2016 - FEI otevírá nové školící centrum pro servisní techniky a zákazníky z celého světa v Brně
Produkty FEI v Brně
[editovat | editovat zdroj]Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:
- Tři základní typy transmisních mikroskopů (Morgagni, Tecnai Spirit a Tecnai 20, určeny 200kV, 120kV a 100kV mikroskopy), určeny většinou pro biologické aplikace.
- Tři základní rodiny rastrovacích mikroskopů (Quanta, Magellan, Nova NanoSEM).
- Přístroje se dvěma svazky elektronů a iontů (DualBeam) spojující SEM a FIB (Quanta, Quanta 3D FEG). Viz [1]
- Moduly urychlovacích vysokonapěťových zdrojů od 30kV do 300kV (se stabilitou 10ppm resp lepší než 1ppm). Na stabilitě a přesnosti energetického zdroje záležela i stabilita a přesnost mikroskopu.
- Autoemisní trysky pro rastrovací mikroskopy.
- Iontové tubusy pro použití v zařízeních DualBeam, které vytvářejí a fokusují svazek iontů gallia na preparátu velikosti stopy a průměru několik nanometrů pro zobrazení pomocí iontů.
| Rok | Typ přístroje | Vyrábí se v současnosti |
Specifikace | Typ | Fotografie |
|---|---|---|---|---|---|
| 1993 | EM208 | ne | První (TEM) přístroj vůbec | TEM | |
| 1996 | EM208S | ne | Inovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvy | TEM | |
| 1997 | XL30TMP | ne | První SEM přístroj, nárůst aktivit | SEM | |
| 1998 | XL30ESEM | ne | První přístroj s ESEM technologií | SEM | |
| 2000 | XL40ESEM | ne | První ESEM se stolkem 150x150mm | SEM | |
| 2000 | Morgagni | ne | Radikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerou | TEM | |
| 2001 | Quanta | ne | Nová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorek | SEM | |
| 2002 | Quanta HV | ne | Vysokovakuová verze nové rodiny | SEM | |
| 2003 | Quanta FEG | ne | První přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologií | SEM | |
| 2003 | Quanta 3D | ne | První SDB s ESEM technologií | SDB | |
| 2004 | Tecnai G2 Spirit | ano | Transmisní mikroskop 120kV pro široké využití | TEM | |
| 2004 | Tecnai G2 20 | ano | Transmisní mikroskop 200kV pro široké využití | TEM | |
| 2005 | Nova NanoSEM | ano | První ultravysokorozlišovací SEM | SEM | |
| 2005 | Quanta MkII | ano | Inovace řady Quanta | SEM | |
| 2005 | Inspect | ano | Rutinní přístroj určený především pro kontrolní účely | SEM | |
| 2006 | Quanta FEG MKII | ano | Inovace rady Quanta FEG | SEM | |
| 2007 | Quanta 3D FEG | ne | Nový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskou | SDB | |
| 2007 | Tecnai G2 30 | ano | Transmisní mikroskop 300kV pro široké využití | TEM | |
| 2008 | Versa 3D | ano | Dual Beam s ESEM, FEI představuje nejuniverzálnější Dual Beam nástroj k dnešnímu dni. | SBD | |
| 2008 | Magellan | ne | První SEM s extrémně vysokým rozlišením | SEM | |
| 2008 | Quanta 3D 200i | ne | Inovace řady Quanta 3D | SDB | |
| 2011 | Helios DualBeam | ano | Helios nalolab dualbeam XHR (extrémně vysoké rozlišení) | SBD | |
| 2012 | Verios XHR SEM | ano | Verios je druhá generace přístroje Magellan, vede XHR (extrémní vysoké rozlišení) SEM rodiny. | SEM | |
| 2013 | Talos | ano | Talos je nová generace v TEM, umožňojuje rychlý přístup k 2D a 3D dat. | TEM | |
| 2013 | Scios Dualbeam | ano | ultra-vysokým rozlišením analytický systém Dual Beam, který poskytuje vynikající 2D a 3D, včetně magnetického materiálu. | SDB | |
| 2014 | Teneo UHR SEM | ano | Ultra vysoké rozlišení obrazu a vysokou propustností analytická výkonnost | SEM | |
| 2014 | Aspex Explorer | ano | SEM přístroj pro průmysl kontrolou kvality | SEM |
Trhy FEI Czech Republic, s.r.o.
[editovat | editovat zdroj]- Cca 50 % výrobků je distribuováno na evropském trhu nebo přes evropský trh servisováno. Pokrývá Rusko, Latinskou Ameriku, Arabský svět a Indii.
- Cca 20–30 % výrobků je distribuováno do USA a Kanady.
- Cca 20–30 % výrobků do zemí: Japonsko, Čína, Tchaj-wan, Korea, Malajsie, Thajsko.
Členění přístrojového trhu
[editovat | editovat zdroj]Členění trhu dle odběratele
[editovat | editovat zdroj]| Polovodičový průmysl | Průmysl obecně | Vědecký výzkum |
|---|---|---|
Reference
[editovat | editovat zdroj]Externí odkazy
[editovat | editovat zdroj]
Obrázky, zvuky či videa k tématu FEI Company na Wikimedia Commons - Oficiální web FEI (anglicky)
- Oficiální web brněnského Technologického parku (česky)
- Mikrosvěty v Brně vydělávají miliony Článek přejatý z www.vzdelavani.ihned.cz
