Figure Caption: Two examples of images from an ESEM. Taken with a Philips XL-30 FEG. The first shows an electron beam deposited nanowire between two microelectrodes that has burnt after sustaining a high bias current. The other shows a multiwall carbon nanotube sample. Shorter working distances often improve image quality and so does a low beam current but it also increases the image acquisition time.
šířit – kopírovat, distribuovat a sdělovat veřejnosti
upravovat – pozměňovat, doplňovat, využívat celé nebo částečně v jiných dílech
Za těchto podmínek:
uveďte autora – Máte povinnost uvést autorství, poskytnout odkaz na licenci a uvést, pokud jste provedli změny. Toho můžete docílit jakýmkoli rozumným způsobem, avšak ne způsobem naznačujícím, že by poskytovatel licence schvaloval nebo podporoval vás nebo vaše užití díla.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.5CC BY 2.5 Creative Commons Attribution 2.5 truetrue
Popisky
Přidejte jednořádkové vysvětlení, co tento soubor představuje
*Figure Caption: Two examples of images from an ESEM. Taken with a Philips XL-30 FEG. The first shows a electron beam deposited nanowire between two microelectrodes that has burnt after sustaining a high bias current. The other shows a multiwall carbon na
Tento soubor obsahuje dodatečné informace, poskytnuté zřejmě digitálním fotoaparátem nebo scannerem, kterým byl pořízen. Pokud byl soubor od té doby změněn, některé údaje mohou být neplatné.